贵州晶振外壳|沧州恒熙电子订制规格30x25X12.7
解决都是刻不容缓、需要的。
晶振外壳开裂缺陷描述:开裂主要是由于材料在拉深过程中,应变超过其而形成失稳。
晶振外壳开裂产生的原因:
⑴、产品抗拉强度不足而产生的破裂,如靠近凸、凹模圆角处,局部受力过大而破裂。
⑵、材料变形量不足而引起的破裂,在胀形变形时,靠近凸模顶部产生的破裂或凸缘伸长材料变形流入过大引起的破裂。
⑶时效裂纹,即成形复杂区域在成形过程中产生材料硬化,硬化变形时伴随脆化现象,在成形残余应力的作用下引起制件破裂。
⑷、材料成形时受拉深弯曲后再弯曲折回以致产生破裂,多产生于凸筋或凹模口处。
3/9 下一页 上一页 首页 尾页
返回 |  刷新 |  WAP首页 |  网页版  | 登录
10/30 11:53